International workshop om stresstest og pålidelighed
ASTR 2011 afholdes i slutningen af september måned i San Franciso. Danske RELIAS Engineering arrangerer besøg hos det kendte testhus Reliant Labs i tilknytning til arrangementet.
IEEE har hvert år siden 1995 afholdt en international workshop om stresstest og pålidelighed - ASTR (Accelerated Stress Test & Reliability). ASTR 2011 afholdes over tre dage d. 28.-30. september i down-town San Francisco.
Workshoppen danner rammerne om et uformelt men effektivt forum for erfaringsudveksling og kontaktskabelse mellem elektronikudviklere, pålidelighedsspecialister og beslutningstagere i elektronik- og apparatindustrien over hele verden.
Dagen inden workshoppen starter, tirsdag d. 27. september, inviterer den danske leverandør af testsystemer RELIAS Engineering sammen med Qualmark Corp. i øvrigt til et åbent hus arrangement hos det californiske testhus Reliant Labs i Silicon Valley.
Reliant Labs er et af USAs mest kompetente testhuse indenfor accelereret stresstest og har med sin beliggenhed i et af hovedcentrene for verdens elektronikudvikling oparbejdet en enestående kundeportefølje og erfaring på pålidelighedsområdet.
Åbent hus arrangementet hos Reliant Labs begynder kl. 10:00.
Man kan kontaktet RELIAS Engineering for at høre nærmere om de praktiske detaljer om dette arrangement.
RELIAS Engineering
info@relias.eu
Tel. +45 7070 1527
www.relias.eu
Læs mere om ASTR 2011 på www.ieee-astr.org.
Læs mere Reliant Labs på www.reliantlabs.com.
Relaterede nyheder
- • Temadag om mekatronik
- • SCRUM konference i Aalborg
- • Teknologidage om kontrol og monitorering
- • Linear Technology inviterer til 'Easy Analogue' seminar
- • Seminar om Altium Designer
- • PCB seminar med fokus på overflader og korrosion
- • Rohde & Schwarz afholder EMC-seminar
- • Seminar om komponentkarakterisering
- • Seminar om udvikling af indlejrede Linux-applikationer
- • Seminar om valg af operativsystem
- • Seminar om investeringsmuligheder i Thailand
- • Seminar om MCU'er til embedded og wireless applikationer
- • Kursus om Windows Embedded og CE 6.0
- • Møde med fokus på LED
- • Nyt seminar om LTspice
Seneste nyheder
- • Touch platform emulerer fysiske trykknapper
- • IAR Systems etablerer danske salgsorganisation
- • AMD udvider APU platformen med ny R-serie
- • Ericsson klar med ny generation af powermoduler
- • Første 4 Gbit LPDDR'er i 20nm teknologi
- • SemiSouth sampler første 650V SiC JFETs
- • Digi-Key i globalt samarbejde med t-Global Technology
- • austriamicrosystems bliver til 'ams'
- • Find spændende apps til OrCAD og Allegro på nettet
- • Future lancerer energy harvesting testplatform
- • HDMI bridge-IC strømliner HD-konnektiviteten
- • Box med display
- • Ny standard for trådløs opladning i støbeskeen
- • Stor opbakning til nye M2M standard i 'white space' området
- • AMD Embedded G-Series undestøtter Windows RTOS
- • Ny 600V IGBT platform
- • COM-modul med næste generation Atom dual-core processorer
- • Danfoss afhænder datterselskab
- • Renesas hos RS
- • Würth Elektronik på vej med transformerkomponenter til trådløs opladning
- • Segger Microcontroller hos Farnell
- • I/Q demulator med ultrabred båndbredde
- • Nyt kompakt COM modul fra VIA
- • Low-cost fugtigheds- og temperatursensor
- • Brüel & Kjær og Agilent samarbejder om 'voice-over-LTE' testsystemer