
Nærfelts-scanning til EMC-måling og antennedesigns
Instruments i Horsens har indgået en distributionsaftale med canadiske Emscan, der fremstiller løsninger til wireless- og EMC-test.
Instruments i Horsens har netop udvidet programmet af test- og måleudstyrsløsninger, der rettet mod udvikling, produktion og godkendelser af elektronik og andre tekniske produkter.
Emscan med hovedsæde i Canada er en lille, men innovativ producent af nærfelts-scanningsløsninger, som bruges i forbindelse med måling af RF-udstråling, antennefunktionalitet og EMC.
Emscan's primære produkter hedder henholdsvis RFxpert og EMxpert. Reelt er der tale om to sider af samme sag, da det i begge tilfælde drejer sig om at give elektronikdesignere en hurtig visualisering af deres produkters RF-felter uden behov for store og vanskelig konstruktioner og uden krav om et anechoisk målekammer.
EMxpert vil man typisk bruge i forbindelse med en spektrumanalysator til RF- og støjevaluering af print, som skal igennem et pre-compliance forløb i designfasen, hvor EMSCANs løsning barberer timer eller dage af udviklingsforløbet. RFxpert er derimod oplagt til antenneløsninger, hvor udstrålingsmønstre og effekt meget let bliver gjort synlig.
Når man skal danne sig et billede af udstrålingen fra sin DUT (device under test), så placerer man blot printet eller konstruktionen op ad den nærfelt-scanner, som udgør det fysiske interface i testløsningen og som i teknisk forstand er en planar antenne-array. Scanneren er koblet til en spektrumanalysator/PC, hvor den elektromagnetiske udstråling fra designet vises grafisk.
Når man vender og drejer sit design, så vil man kunne se, hvordan intensiteten ændrer sig på PC’ens skærm. Målingerne er meget enkle og logiske. Rød indikerer en meget kraftig udstråling, mens gul og grøn er tilsvarende mindre RF-emission.
Designere, der udvikler print eller antenner kan meget let danne sig et billede af, hvordan felterne opfører sig rundt om konstruktionen, ligesom man kan få et klart indtryk af en antennes effektivitet på få sekunder. Løsningen er i sagens natur også oplagt til måling af æterbåren støj fra et design med henblik på en EMC-godkendelse.
Instruments A/S
tlf.: 75 64 65 00
www.instruments.hin.dk
Relaterede nyheder
- • Brüel & Kjær og Agilent samarbejder om 'voice-over-LTE' testsystemer
- • Svensk institut tilbyder højspændings-impulstest
- • Rohde & Schwarz og Hameg styrker relationerne
- • Tektronix kan teste Thunderbolt
- • High-voltage SourceMeter
- • Agilent klar med realtime oscilloskop med 63 GHz analog båndbredde
- • Signalanalysator til design og verifikation af wireless chips
- • Ny generation af HALT/HASS testsystemer
- • Teknologidag om PXI
- • Test af Bluetooth Low-Energy applikationer
- • Instruments skal sælge Acculogic ATE-udstyr i Norden
- • Software kan teste apparaters standby forbrug
- • Tektronix introducerer nye mixed-signal oscilloskoper
- • Agilent udvider 3000 X-serien med 1GHz-versioner
- • Altoo udvider med ETS Lindgreen
Seneste nyheder
- • Touch platform emulerer fysiske trykknapper
- • IAR Systems etablerer danske salgsorganisation
- • AMD udvider APU platformen med ny R-serie
- • Ericsson klar med ny generation af powermoduler
- • Første 4 Gbit LPDDR'er i 20nm teknologi
- • SemiSouth sampler første 650V SiC JFETs
- • Digi-Key i globalt samarbejde med t-Global Technology
- • austriamicrosystems bliver til 'ams'
- • Find spændende apps til OrCAD og Allegro på nettet
- • Future lancerer energy harvesting testplatform
- • HDMI bridge-IC strømliner HD-konnektiviteten
- • Box med display
- • Ny standard for trådløs opladning i støbeskeen
- • Stor opbakning til nye M2M standard i 'white space' området
- • AMD Embedded G-Series undestøtter Windows RTOS
- • Ny 600V IGBT platform
- • COM-modul med næste generation Atom dual-core processorer
- • Danfoss afhænder datterselskab
- • Renesas hos RS
- • Würth Elektronik på vej med transformerkomponenter til trådløs opladning
- • Segger Microcontroller hos Farnell
- • I/Q demulator med ultrabred båndbredde
- • Nyt kompakt COM modul fra VIA
- • Low-cost fugtigheds- og temperatursensor
- • Brüel & Kjær og Agilent samarbejder om 'voice-over-LTE' testsystemer