Medieplan 2012 DK
Send til en ven 
Udskriv19/1 2012 kl. 13:47Seminar om komponentkarakterisering
Nortelco Electronics afholder i samarbejde med Keithley Instruments et seminar om målemetoder til karakterisering af elektronikkomponenter og materialer.
'Praktisk målemetoder til karakterisering af nutidens elektroniske komponenter og materialer' er titlen på et arrangement, som Nortelco Electronics og Keithley Instruments afholder den 2. februar på DTU Risø.
På seminaret vil der blive introduceret en bred vifte af præcisionselektronik, semiconductor karakteriseringsteknikker og teknikker til pålidelighedmålinger, inkl. applikationer, standarder, nye udviklinger, nyskabelser og tendenser.
Agendaen for seminaret er som følger:
• IV karakteriseringsmetoder, herunder: principper for SourceMeasure enheder, fra en enkelt kanal til flerkanals komplekse testsystemer, fra meget lavt strømforbrugskomponenter i nano / mikro skala til høj effekt (op til 100A)
• Pulserende IV, herunder: Ultra Fast IV puls teknikker til nano / mikro skala komponenter, og også High Power komponenter som High Brightness lysdioder, galliumnitrid og Silicon Carbide strøm komponenter mv
• Anvendelsesudfordringer - hvilke faktorer påvirker nøjagtighed og repetérbarhed, og hvad kan der gøres for at forbedre målingerne, termiske påvirkninger, testtider, små strømme / lav modstand / høj modstand, lav og høj effekt komponenter.
• Det vil også blive diskuteret, hvordan man får man det bedste ud af instrumenteringen.
Tilmelding: Tommi Sørensen (tommi.soerensen@nortelco.dk) eller tlf. 48 17 75 00
Relaterede nyheder
- • Temadag om mekatronik
- • SCRUM konference i Aalborg
- • Teknologidage om kontrol og monitorering
- • Linear Technology inviterer til 'Easy Analogue' seminar
- • Seminar om Altium Designer
- • PCB seminar med fokus på overflader og korrosion
- • Rohde & Schwarz afholder EMC-seminar
- • Seminar om udvikling af indlejrede Linux-applikationer
- • Seminar om valg af operativsystem
- • Seminar om investeringsmuligheder i Thailand
- • Seminar om MCU'er til embedded og wireless applikationer
- • Kursus om Windows Embedded og CE 6.0
- • Møde med fokus på LED
- • International workshop om stresstest og pålidelighed
- • Nyt seminar om LTspice
Seneste nyheder
- • Kontron satser stort på den nyeste Intel Core i7 processorteknologi
- • LG demonstrerer 55 tommer OLED tv i Europa
- • Exova Metech tilbyder nu kalibrering af ESD pistoler
- • Mouser udbygger med leverandør af antenner til M2M applikationer
- • EBV-magasin om funktionel sikkerhed
- • Bluetooth audiomodul til trådløse højttalersystemer
- • Techno-Matic i nyt forretningsområde
- • Årets Elektropris er uddelt
- • Første SAR A/D-konverter med SPICE model
- • Premier Farnell får ny chef
- • Step-down konverter opererer med 96 procent effektivitet
- • Maxwell Technologies hos Digi-Key
- • Højeffektive DC/DC-konvertere i brick-format
- • Farnell udvider med GNSS/GPS receivere
- • Fuld HD LCD-modul med stor betragningsvinkel
- • Ny teknologi skræmmer fugle væk fra markerne
- • Silicon Labs køber 2,4 GHz specialisten Ember
- • Touch platform emulerer fysiske trykknapper
- • AMD udvider APU platformen med ny R-serie
- • Ericsson klar med ny generation af powermoduler
- • Første 4 Gbit LPDDR'er i 20nm teknologi
- • SemiSouth sampler første 650V SiC JFETs
- • Digi-Key i globalt samarbejde med t-Global Technology
- • austriamicrosystems bliver til 'ams'
- • Find spændende apps til OrCAD og Allegro på nettet