Seneste nyt om:

Seminarer • konferencer
kurser • messer
Send til en ven   Udskriv7/3 2011 kl. 11:41
Send til en ven

National Instruments beskriver tendenser på T&M-markedet

National Instruments lancerer nu '2011 Automated Test Outlook' rapporten, der beskriver de vigtigste trends indenfor test og måling.

National Instruments (NI) har netop offentliggjort 2011 Automated Test Outlook rapporten, der giver et detaljeret indblik i resultaterne af firmaets forskning i de teknologier og metodologier, som former den næste generation af test- og måleapplikationer.

Rapporten beskriver tendenser i en lang række industrier, herunder konsumerelektronikindustrien, den automotive industri, halvlederindustrien, militær- og flyindustrien, medicoelektronikindustrien og data- og telekommunikationsindustrien. Med den indsigt, som rapporten giver, kan ingeniører og virksomhedsledere lettere udnytte de nyeste strategier og 'best practices' til optimering af enhver testorganisation.

2011 Automated Test Outlook rapporten er baseret på input fra universitets- og industriforskning, brugerfora og -undersøgelser, business intelligence og evalueringer fra kunderådgivende råd. Med disse data som grundlag giver rapporten en bred repræsentation af den næste generation af tendenser, der imødekommer de forretningsmæssige og tekniske udfordringer inden for test og måling.

Rapporten er opdelt i fem kategorier: Forretningsstrategi, arkitekturer, computing, software og I/O. De afgørende tendenser, der behandles i 2011 Automated Test Outlook rapporten, omfatter blandt andet:

- Organisatorisk testintegration: Integrering af validering og produktionstest kræver et koncentre-ret fokus på strategi-, proces-, medarbejder- og teknologiændringer.

- System software-stack: Et højt integreret software-framework giver en fleksibel systemarkitektur, der gør det nemmere at tilføje flere måleegenskaber og reducere testtiden.

- Heterogen computing: Fremtidige testsystemer vil kræve forskellige typer af processerings-nodes for at imødekomme de stadig mere krævende analyse- og processeringsbehov.

- IP to the Pin: Deling af FPGA (Field-Programmable Gate-Array) IP (Intellectual Property) mellem design og test reducerer designverificering og -validering markant og forbedrer produktionstesttiden og fejldækningen.

Rapporten kan læses på www.ni.com/ato

Relaterede nyheder

Forrige1234567891011Næste

Elektronik & Data • Odsgard A/S • Stationsparken 25 • 2600 Glostrup • Tlf: +45 4345 1063