Seneste nyt om:

Seminarer • konferencer
kurser • messer
Send til en ven   Udskriv4/11 2010 kl. 9:59
Send til en ven

National instruments lancerer LTE testplatform

National Instruments udvider sin PXI RF testportefølje med automatiseret LTE testløsning.

National Instruments (NI) har udvidet sin RF testproduktportefølje med en LTE (Long Term Evolution) testløsning i form af en kommende LTE målesuite, der arbejder sammen med NI’s PXI RF signalgeneratorer og -analysatorer.

Det nye softwaredefinerede LTE testsystem er designet til test af 3GPP (3G Partnership Project) LTE standardbaserede trådløse komponenter, subsystemkomponenter og mobile basestationer og repræsenterer en hurtig, fleksibel og nøjagtig løsning for udviklere af automatiserede validerings- og produktionstestsystemer til LTE produkter.


LTE testsystemet er baseret på NI’s automatiserede testsoftware og modulære PXI instrumenter. Systemet består af den nye LTE målesuite software, en NI PXIe-5663E 6,6 GHz vektor signalanalysator, en NI PXIe-5673E 6,6 GHz vektor signalgenerator samt et PXI-chassis med tilhørende controller.

Testingeniører kan anvende systemets hardwareinstrumenter til at teste eksisterende RF- og trådløse standarder samt LTE- og andre næstegenerations standarder. Ifølge NI’s indledende testresultater af LTE testplatformens måletekniske egenskaber kan LTE testsystemet håndtere modulationspræcisionsmålinger (RMS EVM) på helt ned til -48 dB og udføre automatiserede målinger op til tre gange og fem gange hurtigere end traditionel instrumentering.

LTE målesuiten er nyeste skud på stammen i NI’s omfattende portefølje af hardware- og software-løsninger til test af trådløst udstyr, inkl. testsoftware til mobiltelefonstandarder som f.eks. GSM/EDGE og WCDMA/HSPA+ og software til test af Fixed og Mobile WiMAX-, trådløs LAN (WLAN)-, GPS-, AM/FM- og Bluetooth produkter.

LTE testsystemet supplerer også mange andre RF måleværktøjer fra National Instruments som f.eks. signalgeneratorer, signalanalysatorer, RF powermetre og andre DC- og baseband instrumenter. En ekstra fordel ved LTE testsystemets soft-waredefinerede konfiguration er, at det også integrerer med mere end 1.500 PXI-instrumenter fra NI og flere end 70 andre leverandører, og PXI-platformen kan derfor håndtere kravene til næsten enhver applikation.

National Instruments Danmark
Tlf. 45 76 26 00
ni.denmark@ni.com
www.ni.com/rf

Relaterede nyheder

Forrige1234567891011Næste

Elektronik & Data • Odsgard A/S • Stationsparken 25 • 2600 Glostrup • Tlf: +45 4345 1063