Seneste nyt om:

Seminarer • konferencer
kurser • messer
Send til en ven   Udskriv5/12 2011 kl. 13:26
Send til en ven

PXI-baseret testløsning til RF PA-forstærkere

National Instruments nye PXI-baserede testløsning til validering og produktionstest af RF PA-forstærkere kan forøge testgennemløbshastigheden med en faktor 10.

National Instruments (NI) benyttede den 14. European Microwave Week konference og udstilling, der blev afholdt i oktober i Manchester, England, til at demonstrere en komplet PXI-baseret løsning til validering og produktionstest af RF PA-forstærkere.

Det sker på et tidspunkt, hvor PXI-markedet ifølge markedsanalysefirmaet Frost & Sullivan i de kommende år forventes at vokse med en gennemsnitlig årlig vækstrate på 12,2% til over 1 milliard US dollars i 2017, og NI baner vejen med firmaets kontinuerlige udvikling af modulær PXI-instrumentering.


- PXI-markedet vokser kraftigt og vinder markedsandele i forhold til ’rack-and-stack’ in-strumenter, og National Instruments er den ubestridte leder inden for PXI-baseret test- og måleudstyr. Dette er ikke overraskende i betragtning af den store bredde og dybde, som firmaets PXI produktportefølje har, fastslår Jessy Cavazos, der er industrichef for måling og instrumentering hos Frost & Sullivan.

NI’s PXI-løsning til test af PA-forstærkere integrerer en bred vifte af avancerede mixed-signal instrumenter for at imødekomme de krævende krav til hurtig og præcis PA-test i validerings- og produktionsmiljøer.

Demonstrationen viste NI’s nyeste PXI-instrumenter, inkl. NI PXIe-5665 – en 14 GHz vektor signalanalysator (VSA), NI PXIe-6556 – en per-pin parametrisk måleenhed (et såkaldt PPMU instrument), NI PXIe-4154 – en batterisimulator, og NI PXIe-5186 – en 12,5 GSamples/sek, 5 GHz digitizer. Med disse PXI-baserede modulære instrumenter kan ingeniører udføre en bred vifte af PA-tester og -målinger som f.eks. PVT (power versus time), EVM (error vector magnitude), ACLR (adjacent channel leakage ratio), lækstrømme, harmoniske og åben-kortslutningstest.

PXI testløsningen til RF PA-forstærkere er ét ud af mange NI PXI værktøjer. Udvalget om-fatter i øjeblikket mere end 450 forskellige PXI-moduler der kan imødekomme praktisk talt enhver ingeniørmæssig udfordring. Testløsningen bygger på denne succes og på PXI-platformens tekniske fordele, inkl. avancerede timing- og synkroniseringsegenskaber, som gør det muligt at dele triggere og kloksignaler mellem PXI-instrumenterne.

Disse funktionsegenskaber kombineret med PXI testløsningens højhastigheds PXI Express bus, resulterer i testhastigheder, der er op til 10 gange hurtigere end traditionelle box-instrumenter. National Instruments leverer også software, der opfylder en lang række RF standarder, inkl. LTE, GSM/EDGE, WCDMA, WLAN, WiMAX, ZigBee og Bluetooth.

I juli 2011 overtog National Instruments det californiske firma AWR Corporation, der er en af markedets førende leverandører af EDA-software med RF designværktøjer som AWR Microwave Office til udvikling af RF og højfrekvens komponenter og systemer. Overtagel-sen styrker både NI PXI- og AWR Microwave Office platformene som komplementære løsninger til hele RF udviklingsspektret og medvirker til at øge produktiviteten fra designfase til produktionstest, inkl. PA-forstærker design- og testapplikationer.  

National Instruments Danmark
tlf. 45 76 26 00 
ni.denmark@ni.com
www.ni.com/patest

Relaterede nyheder

Forrige1234567891011Næste

Elektronik & Data • Odsgard A/S • Stationsparken 25 • 2600 Glostrup • Tlf: +45 4345 1063