Medieplan 2012 DK
Send til en ven 
Udskriv3/2 2011 kl. 16:00Roadshow om test- og måleteknologier
National Instruments vil i begyndelsen af april måned afvikle roadshow, hvor deltagerne kan høre om de seneste udviklingstendenser inden for test- og målesystemer.
Hvis man beskæftiger dig med produktdesign, validering, forskning eller test, er man sandsynligvis meget travlt beskæftiget - for travlt til at følge med i alle de nyeste teknologier inden for ens ekspertiseområde.
Det vil National Instruments råde bod på: Firmaet inviterer således til 'Test & Measurement Roadshow 2011', hvor deltagerne har mulighed for at blive opdateret med det seneste nye i et komprimeret forløb på 3½ time.
Det vil være muligt at få en viden om automatiserede test- og målesystemer, nøjagtig timing og synkronisering af instrumenter, softwarearkitekturer, distributeret computing til online og offline signalbehandling samt test af indlejrede systemer.
Blandt højdepunkterne kan nævnes:
- Valg af den rette busteknologi til din applikation
- Lær hvordan du opnår en ekstrem nøjagtig timing og synkronisering
- Opbygning af softwarearkitektur, der kan genbruges og har en stor fleksibilitet
- Hvordan multi-core CPU’ere, FPGA’ere og cloud computing påvirker test og måling
- Genbrug af testværktøjer, modeller og simuleringsdata i udviklingsprocessen
Seminarprogrammet afvikles på følgende datoer og lokationer:
05/04/2011 08:30 Randers
06/04/2011 08:30 Sønderborg
12/04/2011 08:30 Hørsholm
12/04/2011 13:00 Hørsholm
Tilmelding:
http://sine.ni.com/nievents/app/overview/p/eventId/42769/site/nie/country/dk/lang/da/scope/country/location/dk
Relaterede nyheder
- • Brüel & Kjær og Agilent samarbejder om 'voice-over-LTE' testsystemer
- • Svensk institut tilbyder højspændings-impulstest
- • Rohde & Schwarz og Hameg styrker relationerne
- • Tektronix kan teste Thunderbolt
- • High-voltage SourceMeter
- • Agilent klar med realtime oscilloskop med 63 GHz analog båndbredde
- • Signalanalysator til design og verifikation af wireless chips
- • Ny generation af HALT/HASS testsystemer
- • Teknologidag om PXI
- • Test af Bluetooth Low-Energy applikationer
- • Instruments skal sælge Acculogic ATE-udstyr i Norden
- • Software kan teste apparaters standby forbrug
- • Tektronix introducerer nye mixed-signal oscilloskoper
- • Agilent udvider 3000 X-serien med 1GHz-versioner
- • Altoo udvider med ETS Lindgreen
Seneste nyheder
- • Europæisk chipmarked udvikler sig solidt
- • Kontron satser stort på den nyeste Intel Core i7 processorteknologi
- • LG demonstrerer 55 tommer OLED tv i Europa
- • Exova Metech tilbyder nu kalibrering af ESD pistoler
- • Mouser udbygger med leverandør af antenner til M2M applikationer
- • EBV-magasin om funktionel sikkerhed
- • Bluetooth audiomodul til trådløse højttalersystemer
- • Techno-Matic i nyt forretningsområde
- • Årets Elektropris er uddelt
- • Første SAR A/D-konverter med SPICE model
- • Premier Farnell får ny chef
- • Step-down konverter opererer med 96 procent effektivitet
- • Maxwell Technologies hos Digi-Key
- • Højeffektive DC/DC-konvertere i brick-format
- • Farnell udvider med GNSS/GPS receivere
- • Fuld HD LCD-modul med stor betragningsvinkel
- • Ny teknologi skræmmer fugle væk fra markerne
- • Silicon Labs køber 2,4 GHz specialisten Ember
- • Touch platform emulerer fysiske trykknapper
- • AMD udvider APU platformen med ny R-serie
- • Ericsson klar med ny generation af powermoduler
- • Første 4 Gbit LPDDR'er i 20nm teknologi
- • SemiSouth sampler første 650V SiC JFETs
- • Digi-Key i globalt samarbejde med t-Global Technology
- • austriamicrosystems bliver til 'ams'