Anritsu opgraderer Bluetooth tester

Anritsu opgraderer MT8852B Bluetooth testeren, så der kan udføres radio-layer test af Bluetooth Smart og Bluetooth Smart Ready devices og dermed sikre, at de er kompatible med den nye Bluetooth 4.2 standard.

Anritsu har annonceret en opgradering til sin MT8852B Bluetooth tester, der understøtter “Data Length Extension”, introduceret til Bluetooth Low Energy som en del af den seneste Bluetooth Core Specifikation version 4.2.

Med den nye 'Data Length Extension'option, kan designere og fabrikanter af Bluetooth Smart and Bluetooth Smart Ready enheder bruge MT8852B til at gennemføre radiotests, der er i fuld overensstemmelse med den nyligt vedtagne Bluetooth 4.2 standard. Udvidelsen af længden på datapakkerne i Bluetooth Low Energy fra 37 oktetter til 255 oktetter øger det effektive throughput af systemet ved at reducere overhead og forbedre effektiviteten ved datatransmission.

Den nye måleoption i MT8852B, der understøtter den udvidede pakkestruktur, tilføres til de seks Bluetooth Low Energy testcases, der allerede understøttes af testeren. De nye testcases kan køres som en del af et testscript, til at forenkle oprettelsen af testprogrammer og reducere testtider.

For eksempel kan ingeniørerne bruge MT8852B til at fuldføre et test script, der gennemfører Bluetooth Basic Rate, Enhanced Data Rate (EDR) and Bluetooth Low Energy målinger på under 15 sekunder, ved at trykke på en enkelt tast eller sende en enkelt kommando, hvilket i høj grad forenkler produktionstestprogrammer.

Bluetooth Low Energy målingerne fortages direkte på MT8852B, der kontrollerer DUT’en (Device-Under-Test) ved hjælp af Direct Test Mode (DTM) over USB og RS232 HCI, 2-wire eller USB-til-serial-adapter kontrolinterfaces.

For udviklingsapplikationer er MT8852B BLE Data Length Extension måleoption leveret med et PC program, der viser referencetestpakkerne i et grafisk format, samt give en tydelig pass/fail status for alle understøttede målinger, i forhold til de specificerede grænser. Dette letter identifikationen af årsagerne til fejl på den testede enhed, under de kritiske design og udviklingsstadier.

18/12 2014