National Instruments redefinerer SMU målinger
Det nye NI PXIe-4139 SMU (Source Measure Unit) instrument leverer en 100 gange hurtigere samplehastighed med mindst dobbelt så høj kanaldensitet end tilsvarende box-instrumenter.
National Instruments (NI) har lanceret en ny NI PXIe-4139 SMU enhed (Source Measure Unit), der er en højtydende tilføjelse til SMU porteføljen. Det nye PXIe-4139 SMU instrument kan reducere de samlede testomkostninger og accelerere 'time-to-market' for testingeniører i en lang række industrier fra halvlederindustrien til den automotive industri og forbrugerelektronikindustrien.- Med NI PXIe-4139 får ingeniører og forskere vide IV grænser, inkl. et udvidet pulskapacitetsområde på op til 500 W (10 A ved 50 V) og en følsomhed på ned til 100 fA, til at teste en lang række halvlederkredse med ét enkelt instrument, siger Luke Schreier, der er senior gruppechef for testsystemer hos National Instruments.
- NI PXIe-4139 SMU instrumentets kompakte størrelse er også af afgørende betydning, idet det kan reducere testsystemets fysiske størrelse markant sammenlignet med traditionelle SMU box-instrumenter.
NI PXIe-4139 er forsynet med NI’s SourceAdapt teknologi, der gør det nemmere for ingeniører at opnå en optimal SMU respons til enhver given belastning ved at skræddersy SMU instrumentets kontrol-sløjfe. Dette beskytter testemnerne og forbedrer systemets stabilitet.
NI PXIe-4139 system SMU instrumentet kan endvidere foretage målinger ved samplingshastigheder på 1,8 MSs/sek, som er 100 gange hurtigere end traditionelle SMU instrumenter. Den høje samplingshastighed medvirker til at reducere testtiden og giver ingeniører mulighed for at opfange transient-kredskarakteristikker uden et eksternt oscilloskop.
- Det er nødvendigt at anvende en ny instrumenteringsmetode, hvis man ønsker at holde trit med den voksende kompleksitet i dagens elektronik, påpeger Luke Schreier.
- SourceAdapt teknologi kombineret med de indbyggede fordele ved modulær PXI instrumentering og NI LabVIEW systemdesignsoftware, giver ingeniører en konkurrencemæssig fordel ved at reducere testtiden og beskytte deres testemner.
Nølgespecifikationer:
• 100 fA følsomhed ved strømmåing: Præcis karakteriserering af højtydende halvlederkredse.
• 1,8 MS/sek samplingshastighed: Opfange transient-kredskarakteristikker uden et eksternt oscilloskop.
• Op til 17 SMU kanaler i et enkelt 4U 19” PXI-chassis: Minimere testsystemets størrelse for systemer med et højt kanalantal.
• SourceAdapt teknologi: Reducere transienttider for at forbedre de samlede testtider og beskytte testemnet mod oversving og oscillationer, også ved meget induktive eller kapacitive belastninger.
National Instruments Danmark
Tlf.: 45 76 26 00
