RTX klar med ny wireless testplatform
RTX Technology udvider sine DECT/CAT-iq RF testforme med løsning, der opererer med 60 procent hurtigere test af DECT/DECT 6.0/CAT-iq og Japan DECT systemer (in english).
RTX Technology udvider sine DECT/CAT-iq RF testforme med løsning, der opererer med 60 procent hurtigere test af DECT/DECT 6.0/CAT-iq og Japan DECT systemer (in english).
LEM lanecerer ITZ familien af transducere til soleret måling af høje veksel-, jævn- og pulsstrømme.
Instruments i Horsens har indgået en distributionsaftale med canadiske Emscan, der fremstiller løsninger til wireless- og EMC-test.
Hameg Instruments har siden 2005 været en del af Rohde & Schwarz, hvilket nu også tydeliggøres ved at begge firmaers logoer kommer på fronten af Hameg instrumenterne (in english).
Agilent Technologies annoncerer industriens første otte kanals RF målesystem, der adresserer LTE og beamforming (in english).
Digi-Key har indgået globalt dækkende distributionsaftale med LeCroy, der er blandt de førende leverandører af test- og måleinstrumenter (in english).
Ny Agilent-løsning forbedrer nøjagtigheden og simplificerer opsætning af receivertest af PCI Express, MIPI M-PHY og SD UHS-II systemer (in english).
Tektronix lancerer nye serie af powermetre/sensorer til brug i forbindelse med mikrobølgetest.
Tektronix er nu klar med en protokol testplatform, der kan analysere, stimulere og karakterisere højhastigheds serielle links (in english).
Agilent udvder famlien af håndholdte oscilloskoper til industriappli´kationer med versioner med farve VGA display (in english).
National Instruments lancerer ny udvidelsesmoduler, der gør det muligt at opbygge store multichassis PXI Express systemer til dataopsamlings- og automatiserede testapplikationer.
National Instruments har udvidet sin NI-XNET produktfamilie med nye C serie CAN- og LIN-interfacemoduler.
Agilent Technologies nye E5515E 8960 Series 10 trådløse kommunikations testsæt retter sig mod udviklere af 2G/3G/3.5G systemer, der opererer med maksimale datahastigheder (in english).
Agilent og Lime Microsystems er gået sammen om opbygning af ny testplatform til bl.a. SDR (software-defined radio) baserede systemer (in english).
National Instruments nye PXI-baserede testløsning til validering og produktionstest af RF PA-forstærkere kan forøge testgennemløbshastigheden med en faktor 10.