Banebrydende Boundary Scan testplatform
Göpel lancerer via EP-TeQ nu verdens første automatiske testprogram generator til funktions-emuleringstest af bus komponenter.
EP-TeQ ApS, leverandør af løsninger til elektronikproduktion, inspektion og test i Norden og de baltiske lande, tilbyder nu IEEE1149.x baseret fuldautomatisk funktionel testgenerering specielt til on-board system bus strukturer.
Det nyudviklede værktøj er baseret på in-system emuleringsteknologien, VarioTAP fra Göpel Electronic GmbH til udvidet JTAG/Boundary Scan. Værktøjet giver for første gang i verden mulighed for komplet automatisering af test vektor generering med fejl diagnose til funktionel emuleringstest.
- Med de nye værktøjer løfter vi fusionen af statisk JTAG/Boundary Scan og dynamisk emuleringstest til et helt nyt niveau, siger Thomas Wenzel, Direktør for Boundary Scan divisionen hos GOEPEL electronic GmbH.
- Det høje grad af automatisering og uafhængigheden af værktøj fra microprocessor leverandørerne sikrer at brugerne ikke længere er bundet til manual program generering med begrænset fleksibilitet. Hele test genereringsprocessen bliver ikke kun mere produktiv men også mere sikker. Den dynamiske testdækning og diagnose-kvaliteten forbedres betydeligt.
Kernen hedder Automatic VarioTAP test program Generator (AVTG) til bus komponenter, er fuldt integreret i SYSTEM CASCON og bruger samme projektdatabase som Boundary Scan test modulerne. AVTG genkender strukturelle forhold mellem processoren og de forbundne bus komponenter og genererer strukturelle testvektorer, som herefter indkobles som emuleringstests i real tid via processoren.
Med andre ord muliggøres dynamisk test af ressourcer forbundet til processoren, såsom kommunikationsinterfaces, CTC, bus bridge, digital I/O, analog I/O, displays med diagnose, og AVTG til buskomponenter komplementerer de allerede eksisterende VarioTAP værktøj til test af dynamisk/statisk memory og programmering af embedded og ekstern Flash.
- Teknikken bygger på biblioteksmodeller i stil med In-Circuit test, siger Lars Kongsted-Jensen, direktør hos EP-TeQ i Stilling, Skanderborg.
- Resultatet er hurtig modelbaseret testgenerering, god fejldækning med præcis diagnose ligesom ICT, men her bruges Boundary Scan celler som 'testnåle' og back-driving er ikke nødvendigt, da det er testemnets egen processor der afvikler testen i real tid – kun ved brug af en enkelt ekstern JTAG/Boundary Scan controller og software licens.
VarioTAP Emulering understøtter i princippet alle JTAG/IEEE 1149.1 baserede processorer/controllere uafhængig af scan kæde konfigurationen op til multi processorer eller multi core applikationer. Microprocessorerne kan være af forskellig type og endda være i en lokal kæde via en scan router.
Den tilpassende streaming teknologi tilbyder muligheden for at eksekvere emulerings tests i et test program parallelt eller interaktivt med boundary scan tests. Derved er antallet af boundary scan kredse, scan celler eller TAPs i praksis ubegrænset, og ved at benytte SCANFLEX hardware platformen kan eksempelvis op til otte TAP styres uafhængigt og samtidigt med andre I/O ressourcer.
Brugen af pre-kompilerede VarioTAP standard modeller fjerner behovet for, at brugeren skal have processor specifikke kundskaber eller anvende en specifik processor-pod – hvilket resulterer i en enkel løsning, der er let at implementere – så den nye løsning fjerner altså mange tidligere begrænsninger. Hvis man vil udvide standard funktionerne, så kan modellerne også udbygges med kunde specifikke funktioner enten af Göpel Electronic, VarioTAP partnere eller kunden selv via et Model Development Kit.
Som en ekstra feature er det med VarioTAP også muligt at teste og programmere via processorer der ikke har boundary scan indbygget men bare har en JTAG port til emulering.
VarioTAP kan umiddelbart køre på alle eksisterende boundary scan controllere fra Göpel Electronic, og da VarioTAP udelukkende er software modeller, kræves der i tillæg til dem kun en software licens.
Mere information om EP-TeQ ApS og deres produkter kan findes på http://www.ep-teq.com
