Agilent klar med ny serie af netværksanalysatorer

Agilent klar med ny serie af netværksanalysatorer

Den nye ENA serie af netværksanaysatorer fra Agilent Technologies kan sænke kostprisen i forbindelse med test af RF komponenter (in english).

Agilent Technologies announcesd the E5063A ENA Series network analyzer, a low-cost ENA solution for manufacturing test. The instrument offers optimized performance and functionality for testing simple RF passive components, such as handset/BTS antennas, RF cables and filters. It can also be used in R&D for evaluation of RF passive devices and dielectric materials.

The Agilent E5063A offers the best balance of performance and cost. It provides excellent RF performance, including trace noise of 0.002 dBrms and the stability of 0.01 dB/degC. This feature helps reduce test cost without sacrificing quality.

Using the E5063A with U1810B USB RF switch, engineers can build an economical multi-DUT test solution for testing four antennas with a single instrument, further reducing cost of test.

With proven calibration and data analysis capabilities, including the fixture simulator function, the E5063A provides measurements consistent with the industry-standard Agilent E5071C ENA Series network analyzer.

The combination of the E5063A and the 85070E dielectric probe kit offers an ideal economical solution for characterizing dielectric material, making it suitable for material researchers with limited budgets.

- The new Agilent E5063A ENA Series network analyzer addresses the need to drive down the total cost of test for both the manufacturing and R&D environments. It is an optimized solution without compromising performance or quality, says Akira Nukiyama, vice president and general manager, Agilent’s Component Test Division.

Altoo Measurement Science ApS
Phone: 70 13 15 15
www.altoo.dk

10/2 2014
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).
  • XJTAG understøtter nu FTDI

    XJTAG understøtter nu FTDI

    aktive-komponenter-og-embedded-sw ›XJTAG, en førende leverandør af test- og programmeringsløsninger, understøtter nu FTDI's JTAG-controllerhardware i version 4.3 af XJTAG-softwaresuiten (in english).
  • Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    t-og-m ›Anritsu annoncerer, at firmaets udvidede SmartStudio NR (SSNR) og SmartStudio NR IP Performance (SSIP) softwareløsninger nu inkluderer support af 5G RedCap devicetest (in english).