PXI-baseret test af mixed-signal chips
National Instruments lancerer nu 10 nye modulære PXI-baserede instrumenter, der sigter mod test af mixed-signal chips (in english).
Nyt firma distribuerer Agilent T&M-udstyr
Det nyetablerede firma Altoo, der er etableret af ledende medarbejdere fra Agilent, er blevet udpeget som distributør af Agilents program af test- & måleudstyr i Danmark, Grønland og Island.
Kompakt netværksanalysator
Agilent introducerer kompakt netværksanalysator, der understøtter et bredt frekvensområde (in english).
Kalibrering af IR-udstyr og termokameraer
Elma Instruments har etableret professionelt kalibreringslaboratorium til IR-udstyr og termokameraer.
Ny højtydende 10 Gbit/s netværksanalysator
Agilent lancerer 10 Gbit/S netværksanalysator (in english).
Poweranalysator til transformertest
Yokogawa WT3000T er præcision poweranalysator, der dedikeret til transformertest (in english)
Tektronix slår til med 20 GHz mixed signal oscilloskop
Den nye Tektronix MSO70000-serie gør det lettere at integrere digital og analog analyse med fejlsøgning og karakterisering af systemer, som involverer hukommelse, RF og serielle busser.
Tektronix udvider RSA6000 serien
RSA6000 serien af realtime spektrumanalysatorer udvides med model RSA6120 med frekvensområde op til 20 GHz.
Tektronix introducerer digitale multimetere
Tektronix' nye DMM4000 serie af DMM'er integrerer LabVIEW SignalExpress instrumenterings-softwaren.
Prober til PCIe test
Agilent introducerer nye probeløsninger til firmaet PCI Express prober til 2960B serien af analysatorer (in english).
Nye mixed-signal oscillskoper fra Yokogawa
Yokogawa annoncerer markant udvidelse af programmet af mixed-signal oscilloskoper (in english).
Nyt TestStand ATML værktøj
National Instruments introducerer nyt NI TestStand ATML værktøj til udvikling af automatiserede testapplikationer.
Innovativ probe understøtter Intel-arkitektur
Green Hills' unikke debug probe understøtter nu også den nyeste Intel-artikektur (in english).
Ny boundary-scan controller
JTAG Technologies lancerer boundary-scan controller til PCI-express slots (in english).
FlexRay- og CAN-interfaces fra National Instruments
National Instruments har introduceret en ny NI-XNET platform med FlexRay- og CAN-interfaces, NI-XNET software og et fælles applikations programmeringsinterface.
Anritsu viser 'industry firsts'
t-og-m ›Anritsu demonstrerer flere ny testteknologier i forbindelse med ECOC 2009 udstillingen (in english).
Boundary-scan søger nye veje
t-og-m ›JTAG Technologies lancerer nyt boundary-scan baseret testkoncept, der baner vejen for at verificere store 'non-boundary-scan' clustre (in english).
Elma er klar til det nye TV signal
t-og-m ›786X-serien fra Sefram Instruments gør det let og enkelt at måle på bl.a. MPEG2 og MPEG4 signaler.
RS udvider Agilent-sortimentet
t-og-m ›RS markedsfører nu også DSO1000 oscilloskoper, U8000 strømforsyninger, 33200A kurveformsgeneratorer samt nye håndholdte instrumenter.
Nye PXI Express controller og chassiser
t-og-m ›National Instruments lancerer prisgunstigt PXI Express chassis og to nye PXI Express indlejrede controllere, der minimerer omkostningerne til automatiserede test- og målesystemer.
Certificeret test af stand-by forbrug
t-og-m ›Yokogawa\'s power metre er nu certificeret til test af standby forbrug i henhold til den nye IEC 62301 standard (in english).
Analyse af 4G teknologier
t-og-m ›Anritsu lancerer ny generation af basestation analysator til 4G applikationer og udstyr (in english).
GPS simuleringsværktøj til LabVIEW
t-og-m ›National Instruments nye GPS simuleringsværktøj version 1.5 til LabVIEW gør det lettere at opbygge en skræddersyet løsning til test af GPS modtagere
