Første ChipVORX instrument til BERT

GOEPEL electronic demonstrerer det første ChipVORX prototypeinstrument til ''Bit Error Rate Test (BERT)'.

På den internationale test konference (ITC) introducerer GOEPEL electronic den første prototype af en ChipVORX model til kørsel af 'Bit Error Rate Tests, BERT' ved hjælp af FPGA'er på selve testemnet.

Den nye løsning giver mulighed for udnyttelsen af FPGA indlejrede instrumenter i form af særlige softcores for test og design validering af high-speed I/O. Dette vil gøre det muligt for brugerne at evaluere kvaliteten af forbindelser ved hjælp af bitfejlrater og tillige ved at analysere øje-diagrammer. ChipVORX modellen er kompatibel med de nyeste FPGA familier. Hele ChipVORX  arbejdsprocessen er stærkt automatiseret og kræver ikke nogen designsyntese.

- På den ene side fremmer de stadig mere kraftfulde FPGA platforme fortsat anvendelsen og hastigheden af Gigabit-forbindelser. På den anden side er adgangsbetingelserne til nødvendig validering ved hjælp af eksterne BERT instrumenter blevet mere og mere vanskelige, og hardwaren bliver stadigt dyrere. Vi ønsker at bryde denne onde cirkel med vores nye ChipVORX løsninger. På samme tid, supplerer denne strategisk meget vigtige komponent vores produktportefølje af syntese-frie IP’er til FPGA indlejrede instrumenter, siger Thomas Wenzel, direktør for GOEPEL electronic’s JTAG/Boundary Scan Division.

Dr. Artur Jutman, formand for Testonica tilføjer:
- Udviklingen af en universel og meget automatiseret BERT instrumentering til en teoretisk link hastighed på mere end 40 Gbps har været målet for samarbejdet med GOEPEL electronic. Vi har fuldt ud opfyldt denne metode. Nu skal vi overføre denne IP til alle førende FPGA platforme.

Om Bit Error Rate Test (BERT)

Såkaldte bitfejlrater (BER) måles for at vurdere kanalkvalitet i digitale transmissionssystemer. BER er forholdet mellem defekt transporterede bits og det samlede antal af transporterede bit i et bestemt tidsinterval. U

dstyret består dybest set af en pattern-generator, en transceiver med fejldetektor og en clock-generator til at synkronisere begge. De bitmønstre, skabt af pattern-generatoren, er især vigtige for kvaliteten af Bit Error Rate Test, da de har afgørende indflydelse på fejl-stimuleringen under transmissionen (stress mønster).

Om Chip indlejrede Instrumenter

Chip indlejrede Instrumenter er enten permanent integreret eller midlertidigt indlagte test- og måle-funktioner (T&M) i et integreret kredsløb. De er som virtuelle modstykker til eksterne T&M instrumenter, da de ikke kræver invasiv kontakt ved hjælp af testprober eller testnåle. Derved undgås problemet også med signalforvrængning i high-speed design som følge af parasitiske kontakt-effekter.

Chip indlejrede instrumenter er en del af de såkaldte Embedded System Access (ESA) teknologier, der byder på metoder som Boundary Scan, Processor Emulerings Test, in-system programmering eller Core assisteret programmering. ESA teknologier er i øjeblikket den mest moderne strategi for validering, test og debug samt programmering af komplekse printkort og systemer. De kan anvendes i hele produktets livscyklus, med henblik på øget testdækning med lavere omkostninger.

Om ChipVORX

ChipVORX er en IP-baseret teknologi til implementering, adgang til og kontrol af chip indlejrede instrumenter via IEEE Std. 1149.x/JTAG. Den understøtter også FPGA indlejrede instrumenter i form af softcores. ChipVORX biblioteket indeholder i øjeblikket mere end 300 forskellige test-og måleinstrumenter til alle førende FPGA platforme. Nogle af disse instrumenter er frekvensmålere og high-speed flash programmører samt IP til at-speed adgangstest af dynamiske RAM-enheder. Brugen af ChipVORX ® kræver hverken ekspert baggrundsviden, specifikke FPGA værktøjer eller løbende IP tilpasninger.

Udviklingen af BERT instrument prototypen og integrationen i den respektive system software er resultatet af et strategisk samarbejde mellem GOEPEL electronic og Testonica Lab baseret på det salgsfremmende program Eurostar (projekt nr. E! 5688). Den endelige version ventes at blive lanceret i slutningen af første kvartal af 2013.

www.goepel.com
EP-TeQ ApS
tlf. 87 48 06 08

7/11 2012
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).
  • XJTAG understøtter nu FTDI

    XJTAG understøtter nu FTDI

    aktive-komponenter-og-embedded-sw ›XJTAG, en førende leverandør af test- og programmeringsløsninger, understøtter nu FTDI's JTAG-controllerhardware i version 4.3 af XJTAG-softwaresuiten (in english).
  • Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    t-og-m ›Anritsu annoncerer, at firmaets udvidede SmartStudio NR (SSNR) og SmartStudio NR IP Performance (SSIP) softwareløsninger nu inkluderer support af 5G RedCap devicetest (in english).