Multifunktions dataopsamlingsmoduler til USB

NI lancerer nye USB X serie dataopsamlingsmoduler, der er udstyret med en forbedret digital funktionalitet og omfatter to moduler med mulighed for samtidig sampling på otte analoge inputkanaler. 

National Instruments (NI) introducerer ny X serie multifunktions dataopsamlingsmoduler (DAQ) til USB. Den nye USB X serie integrerer avancerede analoge måle- og kontrolkana-ler, digitale I/O-linier og tællere/timere i ét enkelt USB-baseret plug-and-play modul, som ingeniører og forskere med fordel kan anvende til en bred vifte af bærbare test-, måle- og datalogging applikationer.

USB X serien af dataopsamlingsmoduler indeholder op til 32 analoge inputkanaler, fire analoge outputkanaler, 48 digitale I/O-linier og fire tællere/timere. De otte nye USB X serie moduler dækker et område fra 500 kSamples/sek multiplexede analoge inputkanaler til 2 MSamples/sek samtidig samplede analoge inputkanaler.

NI LabVIEW grafisk programmering gør det let for brugeren at udvikle komplet skrædder-syede test- og måleapplikationer til USB X serien ved hjælp af intuitive grafiske ikoner og forbindelseslinier, som ligner et flowchart. LabVIEW 2010 softwaren gør datalogging og -analyse enklere med en ny teknisk datamanagement streamingfunktion i NI DAQ Assistenten og mulighed for at eksportere data fra en kurveformgraf til Microsoft Excel eller NI’s DIAdem datamanagementværktøj til analyse og efterbehandling af de opsamlede data.

USB X serie modulerne anvender den samme ’multi-threaded’ NI-DAQmx driversoftware som alle NI’s andre dataopsamlingsmoduler, hvilket gør det nemt at flytte LabVIEW- eller tekstbaseret kode fra tidligere applikationer til de nye USB X serie moduler.

USB X serie modulerne indeholder to nøgleteknologier, der gør dem slagkraftige og letan-vendelige: NI-STC3 teknologi til avanceret timing og triggering og NI Signal Streaming til højhastigheds, tovejs datastreaming.

Det centrale element i alle NI’s USB-, PCI Express- og PXI Express baserede X serie data-opsamlingsmoduler er NI-STC3 timing- og synkroniseringsteknologi, der koordinerer ti-mingen og trigningen af analoge-, digitale- og tællersubsystemerne. NI-STC3 teknologien udstyrer X serie modulerne med uafhængige timing-engines til de indbyggede analoge- og digitale I/O-subsystemer, så brugeren kan eksekvere analoge- og digitale I/O uafhængigt af hinanden ved forskellige hastigheder eller sammen med synkronisering.

X serie modulerne indeholder fire forbedrede 32-bit tællere/timere til frekvens-, PWM- (Pulse-Width Modula-tion) og encoder operationer, samt en ny 100 MHz timebase, der kan generere analoge- og digitale samplehastigheder med en opløsning, der er fem gange bedre end NI’s tidligere da-taopsamlingsmoduler.

USB X serie modulerne indeholder også NI Signal Streaming, der er en patenteret teknolo-gi, som anvender meddelelsesbaserede overføringer og indbygget modulintelligens for at opnå en højhastigheds, tovejs dataoverføring over USB-bussen.

Dette gør det muligt at udføre analoge-, digitale- og tælleroperationer samtidig. Med denne teknologi kan brugeren nu udføre samtidig sampling med to af de nye USB X serie moduler, USB-6356 og USB-6366, der kan sample data ved hastigheder på henholdsvis 1,25 MSamples/sek og 2 MSamples/sek på hver af de otte analoge inputkanaler.

USB-6356 og USB-6366 dataopsamlingsmodulerne er udstyret med 32- eller 64 MSamples onboard memory for at garantere endelige dataop-samlinger – også i applikationer med kraftig USB-bustrafik. Den høje samplingshastighed på alle kanaler gør disse dataopsamlingsmoduler specielt velegnede til bærbare ultralyds-test- og transientrecording applikationer.

Alle de nye USB X serie moduler har et nyt design og er udstyret med ekstruderet alumini-umkabinet. Det nye kabinet er forsynet med et lettilgængeligt låg for at holde signalkablin-gen sikret og afskærmet, og modulspecifikke pin-out labels på låget gør det muligt hurtigt at finde de tilsvarende skrueterminaler for en given kanal. Kabinettet er også forsynet med en låsbar USB-port for at forhindre tilfældig frakobling af USB-kablet når det er i brug.

Brugere, der ønsker mere information, se specifikationer, priser og demonstrationsvideoer for den nye USB X serie, kan gå ind på NI’s web-site, www.ni.com/xseries/usb.

National Instruments Danmark
Tlf. 45 76 26 00
E-mail: ni.denmark@ni.com
Internet: www.ni.com/xseries/usb

4/10 2010
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).
  • XJTAG understøtter nu FTDI

    XJTAG understøtter nu FTDI

    aktive-komponenter-og-embedded-sw ›XJTAG, en førende leverandør af test- og programmeringsløsninger, understøtter nu FTDI's JTAG-controllerhardware i version 4.3 af XJTAG-softwaresuiten (in english).
  • Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    t-og-m ›Anritsu annoncerer, at firmaets udvidede SmartStudio NR (SSNR) og SmartStudio NR IP Performance (SSIP) softwareløsninger nu inkluderer support af 5G RedCap devicetest (in english).