National instruments lancerer LTE testplatform

National instruments lancerer LTE testplatform

National Instruments udvider sin PXI RF testportefølje med automatiseret LTE testløsning.

National Instruments (NI) har udvidet sin RF testproduktportefølje med en LTE (Long Term Evolution) testløsning i form af en kommende LTE målesuite, der arbejder sammen med NI’s PXI RF signalgeneratorer og -analysatorer.

Det nye softwaredefinerede LTE testsystem er designet til test af 3GPP (3G Partnership Project) LTE standardbaserede trådløse komponenter, subsystemkomponenter og mobile basestationer og repræsenterer en hurtig, fleksibel og nøjagtig løsning for udviklere af automatiserede validerings- og produktionstestsystemer til LTE produkter.

LTE testsystemet er baseret på NI’s automatiserede testsoftware og modulære PXI instrumenter. Systemet består af den nye LTE målesuite software, en NI PXIe-5663E 6,6 GHz vektor signalanalysator, en NI PXIe-5673E 6,6 GHz vektor signalgenerator samt et PXI-chassis med tilhørende controller.

Testingeniører kan anvende systemets hardwareinstrumenter til at teste eksisterende RF- og trådløse standarder samt LTE- og andre næstegenerations standarder. Ifølge NI’s indledende testresultater af LTE testplatformens måletekniske egenskaber kan LTE testsystemet håndtere modulationspræcisionsmålinger (RMS EVM) på helt ned til -48 dB og udføre automatiserede målinger op til tre gange og fem gange hurtigere end traditionel instrumentering.

LTE målesuiten er nyeste skud på stammen i NI’s omfattende portefølje af hardware- og software-løsninger til test af trådløst udstyr, inkl. testsoftware til mobiltelefonstandarder som f.eks. GSM/EDGE og WCDMA/HSPA+ og software til test af Fixed og Mobile WiMAX-, trådløs LAN (WLAN)-, GPS-, AM/FM- og Bluetooth produkter.

LTE testsystemet supplerer også mange andre RF måleværktøjer fra National Instruments som f.eks. signalgeneratorer, signalanalysatorer, RF powermetre og andre DC- og baseband instrumenter. En ekstra fordel ved LTE testsystemets soft-waredefinerede konfiguration er, at det også integrerer med mere end 1.500 PXI-instrumenter fra NI og flere end 70 andre leverandører, og PXI-platformen kan derfor håndtere kravene til næsten enhver applikation.

National Instruments Danmark
Tlf. 45 76 26 00
ni.denmark@ni.com
www.ni.com/rf

4/11 2010
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).
  • XJTAG understøtter nu FTDI

    XJTAG understøtter nu FTDI

    aktive-komponenter-og-embedded-sw ›XJTAG, en førende leverandør af test- og programmeringsløsninger, understøtter nu FTDI's JTAG-controllerhardware i version 4.3 af XJTAG-softwaresuiten (in english).
  • Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    t-og-m ›Anritsu annoncerer, at firmaets udvidede SmartStudio NR (SSNR) og SmartStudio NR IP Performance (SSIP) softwareløsninger nu inkluderer support af 5G RedCap devicetest (in english).