National Instruments lancerer rapport om automatisk test

Ny rapport beskriver de centrale innovationer og metoder, der påvirker test og måling i mange industrier.

National Instruments (NI) har netop offentliggjort 2010 Automated Test Outlook rapporten, der giver ingeniører og virksomhedsledere et detaljeret indblik i resultaterne af firmaets forskning i innovationer og teknologier, der former dagens test- og måleapplikationer.

Den forretnings- og teknologimæssige indsigt, der præsenteres i rapporten, henvender sig til et bredt spektrum af industrier, inkl. data- og telekommunikationsindustrien, militær- og flyindustrien, halvlederindustrien, den automotive industri og konsumerelektronikindustrien. Målsætningen med 2010 Automated Test Outlook rapporten er at hjælpe ingeniører og virksomhedsledere med at opnå større indsigt i de tværindustrielle tendenser, der har indflydelse på deres organisation.

Den omfattende forståelse for tendenser indenfor teknologien, som National Instruments har opnået via samarbejde med virksomheder, der spænder over mange forskellige industrier, giver et unikt overblik over den retning, som test- og målemarkedet i de kommende år vil udvikle sig i. 2010 Automated Test Outlook rapporten kombinerer input fra universitetsforskning, virksomheder, brugerundersøgelser, online fora, feedback fra kunderådgivning og markedssalg. Med denne omfattende datainformation som grundlag opbygger rapporten en bred repræsentation af den næste generation af tendenser og metoder, der adresserer de forretningsmæssige og tekniske udfordringer inden for test og måling.

2010 Automated Test Outlook rapporten er opdelt i fem kategorier: Forretningsstrategi, arkitekturer, computing, software og I/O. Indenfor hver at de fem kategorier beskriver rapporten detaljeret en tendens, en metode eller en teknologi, der påvirker test og måling. De emner, der behandles i 2010 rapporten, omfatter blandt andet:

- Standardisering: Udvikling af en fælles testplatform reducerer omkostningerne og øger genbrug af hardware og software gennem hele produktets livscyklus.
- Multi-kanal RF test: Test af den kommende generation af trådløse kredse, systemer og apparater kræver en højt synkroniseret parallel testarkitektur fra signal til software.
- Peer-to-Peer computing: Stadig mere komplekse testkrav kræver mere avancerede og 'point-to-point' computerarkitekturer.
- Indlejret design og test: Realtids testsoftware gør det lettere for ingeniører at genbruge test sammen med deres indlejrede systemmodeller gennem hele udviklingsprocessen.
- Rekonfigurerbare instrumenter: FPGA baserede instrumenter giver brugeren et nyt ydelses- og fleksibilitetsniveau ved at gøre det lettere at rekonfigurere hardwaren.

2010 Automated Test Outlook rapporten kan ses og downloades på NI’s web-site, www.ni.com/ato.

Yderligere information:
National Instruments Danmark
Tlf. 45 76 26 00, fax 45 76 26 02
ni.denmark@ni.com
www.ni.com/ato