NI simplificerer opbygning af målesystemer med nye CompactDAQ controllere

NyeCompactDAQ 4-slot and 8-slot controllere integrerer Intel Atom processor og højspræcisions målefaciliteter i en kompakt og robust formfaktor (in english).

NI has announced the new CompactDAQ 8-slot controller, which expands the CompactDAQ controller offering to meet high-channel count applications in rugged environments. By integrating the processor, signal conditioning and I/O into a single CompactDAQsystem, engineers can reduce overall system cost and complexity while increasing measurement accuracy. I

ntegrated measurement systems reduce the number of components, connections and wiring needed, which often introduce noise and additional costs, to ensure high-accuracy measurements and cost-optimised systems.

Both the 4-slot and 8-slot CompactDAQ controllers feature an Intel Atom dual-core processor that can run either Windows Embedded 7 or NI Linux Real-Time. By pairing industry-standard OS options with LabVIEW system design software, customers can easily port LabVIEW code from existing measurement systems to these new CompactDAQ controllers. They can combine LabVIEW and over 60 sensor-specific I/O modules for CompactDAQ to quickly customise data acquisition systems to meet their application needs.

- We've expanded the CompactDAQ family by adding an 8-slot controller to give customers another rugged and integrated solution, says Stefanie Breyer, Director of Data Acquisition R&D at NI.
- The Intel Atom 3800 processor gives engineers powerful processing paired with high-accuracy measurements that can be used in a variety of applications from in-vehicle data logging to distributed measurements.

6/4 2015
  • Rohde & Schwarz afholder power-seminarer

    Rohde & Schwarz afholder power-seminarer

    t-og-m ›Rohde & Schwarz afholder henholdsvis den 3. november (Aalborg) og 4. november (Sønderborg) heldagsseminarer, der fokuserer på forskellige testaspekter med relation til powerelektronik.
  • Produktionsoptimeret testsystem til MicroLED-enheder

    Produktionsoptimeret testsystem til MicroLED-enheder

    t-og-m ›Teradyne præsenterer Iris 100, der er et 'semiconductor-grade' testsystem til den næste generation af optiske interkonnekteringsystemer til bl.a. AI datacentre (in english).
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).