Ny generation af JTAG/Boundary Scan-controllere
EP-TeQ kan nu levere GÖPEL electronics nye generation af modulære JTAG/Boun-dary Scan-controllere, der er baseret på de seneste multicore-processorer og FPGA’er.
GÖPEL electronic præsenterer SCANFLEX II CUBE, den nye generation af modulære JTAG/Boundary Scan controllere. SCANFLEX II CUBE er baseret på de seneste multicore-processorer og FPGA’er og viser således nye veje for Embedded JTAG-løsninger. Denne test- og valideringsmetode anvender embeddede resurser (Boundary Scan-celler, processor-kerne(r), instrumenter i FPGA’er) til at teste og programmere komplekse printkort (PCBA’er), hvilket giver en øget test-dybde med mindre brug af eksternt test-hardware.SCANFLEX II CUBE’s multifunktionelle arkitektur gør det muligt for brugerne at kombinere talrige teknologier på fleksibel vis og med høj performance på blot én platform. Fordelen ved Embedded Board Test er en væsentligt forbedret test-dybde for komplekse printkort – uden brug af testnåle. Eksempelvis kan man gennemføre embedded funktionstest og embedded programmering.
Med op til 8 uafhængige, parallelle testadgangs-porte (TAPs) med maks. 100MHz er det muligt at gennemføre synkroniseret test, fejlfinding og programmering ved hjælp af Embedded JTAG-løsninger (Boundary Scan, Processor-emulering, Chip-Embeddede instrumenter). SCANFLEX II CUBE kan kontrolleres via USB 3.0, Gbit LAN og kablet PCI Express.
