Nye PXI Epress baserede RF-instrumenter
National Instruments lancerer PXI Express baseret 6,6 GHz vektor signalanalysator og vektor signalgenerator med ny RF List Mode og 300 mikrosekunder tuningstid.
National Instruments (NI) har lanceret to nye modulære PXI Express baserede RF instrumenter til automatiseret test af trådløst udstyr og RF kredse. Den nye NI PXIe-5663E 6,6 GHz vektor signal-analysator (VSA) og nye NI PXIe-5673E 6,6 GHz vektor signalgenerator (VSG) forbedrer den krævede test- og måletid markant for en bred vifte af RF udstyr og RF komponenter, der anvender de nyeste trådløse standarder som f.eks. WLAN, WiMAX og GSM/EDGE/WCDMA.
Begge RF instrumenter er forsynet med en ny såkaldt RF List Mode med en deterministisk effekt- og frekvens sekvenseringsfunktionalitet, der gør det lettere for brugeren hurtigere at foretage RF konfigurationsændringer under en test. Instrumenterne er endvidere udstyret med en ny wide-loop båndbredde mode, der forbedrer målehastigheden yderligere ved at reducere lokaloscillatorens sett-ling-tider ned til 300 mikrosekunder eller mindre.
Ved hjælp af den nye RF List Mode kan brugeren konfigurere den nye 6,6 GHz vektor signalanalysator og vektor signalgenerator til hurtigt at køre igennem en præprogrammeret liste med RF indstil-linger, inkl. frekvens- og effektniveau, ved deterministiske timing-intervaller. Den nye RF List Mo-de gør det også lettere at opnå mere nøjagtige effektmålinger ved at gøre det nemmere for brugeren at optimere NI PXIe-5663E vektor signalanalysatorens inputreferenceniveau.
I wide-loop båndbredde mode kan den nye vektor signalanalysator og vektor signalgenerator settle til en centerfrekvens betydeligt hurtigere end mange traditionelle RF instrumenter og opnå en typisk tuningstid på 300 og 400 mikrosekunder for frekvenser mellem 800 MHz og 1.950 MHz. Med disse hurtige settling-tider kan brugeren reducere den samlede måletid markant i automatiserede RF test-applikationer.
Den forbedrede 6,6 GHz PXI Express baserede RF instrumenteringssuite er baseret på NI’s soft-waredefinerede testplatform, der inkorporerer industristandard PC teknologier som f.eks. multi-core processorer og PCI Express bustilslutning. De modulære RF instrumenters softwaredefinerede natur gør det lettere for brugeren at anvende NI’s grafiske LabVIEW systemdesignsoftware til at definere de krævede målealgoritmer til test af et bredt spektrum af trådløst udstyr og RF kredse med hastig-heder, der er op til ti gange hurtigere end traditionel RF instrumentering.
National Instruments Danmark
Tlf. 45 76 26 00
E-mail: ni.denmark@ni.com
Internet: www.ni.com/rf/platform
