PXI digitizer sætter rekorder for ydeevnen

PXI digitizer sætter rekorder for ydeevnen

National Instruments har i tæt samarbejde med Tektronix udviklet en nye serie af særdeles højt ydende 3 GHz og 5 GHz digitizere (in english).

National Instruments (NI) har lanceret en ny PXI Express baseret digitizer, der ifølge firmaet tilbyder industriens højeste båndbredde.

Den nye NI PXIe-5186 digitizer er udviklet i tæt samarbejde med Tektronix, der som bekendt er verdens førende producent af oscilloskoper, og anvender Tektronix’ Enabling Technology for at opnå en høj båndbredde på op til 5 GHz og en samplehastighed på op til 12,5 GSamples/sek.

 NI har også lanceret en ny NI PXIe-5185 digitizer, der kan levere en båndbredde på 3 GHz og en samplehastighed på 12,5 GSamples/sek. Begge digitizere er en del af NI’s PXI-baserede software- og hardwareplatform, der leverer en optimeret ydeevne og funktionalitet til automatiserede testapplikationer.

De nye digitizere inkluderer proprietære oscilloskop ASICs fra Tektronix, hvilket er fundamentet for at opnå højhastigheds signalopsamling med et lavt støjniveau og en høj linearitet. ASIC-kredsene er baseret på den højpålidelige IBM 7HP SiGe procesteknologi.

Et eksempel på den høje signalkvalitet, der opnås med Tektronix’ Enabling Technology er digitizernes utrolig lave sampling-jitter. Digitizernes meget lave 500 femtosekund (fs) RMS integrerede jitter resulterer i et usædvanlig højt effektivt antal bit (ENOB – effective number of bit) på 5,5 ved 5 GHz.

Endvidere leverer NI’s proprietære teknologi en høj dataoverføringshastighed til en hurtigere testeksekvering samt præcisions multi-modul timing og synkronisering til opbygning af integrerede testsystemer med et højt kanalantal.

De nye digitizere, der er designet til 3U PXI Express platformen, kan streame ved hastigheder på helt op til 700 MB/sek og synkronisere kanaler på multiple PXI-/PXI Express moduler indenfor en opløsning på 160 psek. Disse egenskaber gør digitizerne ideelle til applikationer som f.eks. automatiseret produktionstest, ATE halvledertestudstyr og højenergifysik (partikelfysik) målesystemer.

- Som førende instrumentleverandør, der er med til at sætte verdensstandarden indenfor oscilloskoper, er Tektronix forpligtet til at levere teknologi, der imødekommer vore kunders behov, inklusiv ATE-brugere, hvis testapplikationer kræver et kortmodulært instrumentformat. Kunderne nyder godt af vores industriførende signalopsamlingsteknologi kompletteret med instrumentkontrol i verdensklasse fra National Instruments, der er pioneren bag PXI-standarden og verdens førende indenfor instrumentautomation, fastslår Kevin Ilcisin, der er teknologichef (CTO) hos Tektronix.    

De nye digitizere arbejder direkte sammen med NI’s grafiske LabVIEW designsoftware til instrumentkontrol og automation, NI’s LabWindows/CVI ANSI C softwareudviklings-miljø og Microsoft Visual Studio .NET udviklingsværktøjer til en bred vifte af programme-ringsmuligheder. Digitizerne kan programmeres ved anvendelse af NI’s NI-SCOPE instrumentdriver eller det nye LabVIEW Jitter Analysis Toolkit, der indeholder et bibliotek med funktioner, som er optimeret til højhastigheds-, jitter-, øjediagram- og fase-støjmålinger.

Yderligere info:
National Instruments Danmark
tlf. 45 76 26 00, fax 45 76 26 02
E-mail: ni.denmark@ni.com
Internet: www.ni.com/digitizers 

2/5 2011
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).
  • XJTAG understøtter nu FTDI

    XJTAG understøtter nu FTDI

    aktive-komponenter-og-embedded-sw ›XJTAG, en førende leverandør af test- og programmeringsløsninger, understøtter nu FTDI's JTAG-controllerhardware i version 4.3 af XJTAG-softwaresuiten (in english).
  • Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    t-og-m ›Anritsu annoncerer, at firmaets udvidede SmartStudio NR (SSNR) og SmartStudio NR IP Performance (SSIP) softwareløsninger nu inkluderer support af 5G RedCap devicetest (in english).