Roadshow om test- og måleteknologier
National Instruments vil i begyndelsen af april måned afvikle roadshow, hvor deltagerne kan høre om de seneste udviklingstendenser inden for test- og målesystemer.
Hvis man beskæftiger dig med produktdesign, validering, forskning eller test, er man sandsynligvis meget travlt beskæftiget - for travlt til at følge med i alle de nyeste teknologier inden for ens ekspertiseområde.
Det vil National Instruments råde bod på: Firmaet inviterer således til 'Test & Measurement Roadshow 2011', hvor deltagerne har mulighed for at blive opdateret med det seneste nye i et komprimeret forløb på 3½ time.
Det vil være muligt at få en viden om automatiserede test- og målesystemer, nøjagtig timing og synkronisering af instrumenter, softwarearkitekturer, distributeret computing til online og offline signalbehandling samt test af indlejrede systemer.
Blandt højdepunkterne kan nævnes:
- Valg af den rette busteknologi til din applikation
- Lær hvordan du opnår en ekstrem nøjagtig timing og synkronisering
- Opbygning af softwarearkitektur, der kan genbruges og har en stor fleksibilitet
- Hvordan multi-core CPU’ere, FPGA’ere og cloud computing påvirker test og måling
- Genbrug af testværktøjer, modeller og simuleringsdata i udviklingsprocessen
Seminarprogrammet afvikles på følgende datoer og lokationer:
05/04/2011 08:30 Randers
06/04/2011 08:30 Sønderborg
12/04/2011 08:30 Hørsholm
12/04/2011 13:00 Hørsholm
