Nye PXI-instrumenter fra National Instruments

Nye PXI-instrumenter fra National Instruments

National Instruments introducerer en ny high-performance mikrobølge vektor signalanalysator med industriens bredeste båndbredde og en ny hurtigswitching CW signalgenerator.

National Instruments (NI) har netop lanceret en ny high-performance 26,5 GHz mikrobølge vektor signalanalysator (VSA) med industriens bredeste båndbredde (PXIe-5668R) og en ny hurtig tunende 20 GHz CW (Continuous Wave) signalgenerator (PXIe-5654). De to nye instrumenter komplementerer NI’s omfattende portefølje af modulære PXI-instrumenter og udvider PXI-platformens måleegenskaber.

High-Performance vektor signalanalysatorer er karakteriseret ved en kombination af et lavt støjgulv, en høj linearitet og en lav fasestøj. NI’s nye 26,5 GHz VSA-instrument kombinerer disse egenskaber med en øjeblikkelig båndbredde på op til 765 MHz.

Med VSA-instrumentets båndbredde kan ingeniører analysere signaler med en af industriens bredeste båndbredde i en enkelt opsamling inkl. radar pulser, LTE Advanced transmissioner og IEEE 802.11ac kurveformer. Endvidere gør VSA-instrumentets hurtige målehastighed det nemmere for ingeniører at opnå en kortere ‘time-to-market’ og i sidste ende at sænke testomkostningerne. Ingeniører kan også programmere VSA-instrumentets brugerprogrammerbare FPGA med LabVIEW systemdesign software for at skræddersy instrumentets funktionalitet og dermed adressere de mest avancerede RF testapplikationer.

Den nye 20 GHz signalgenerator er udstyret med en ideel kombination af exceptionel lav fasestøj og hurtig tuningtid (100 µsek). Dette instrument adresserer applikationer, der blandt andet omfatter blokering-/interferens signalgenerering, højtydende intermodulationsdistortion prøvestande og forskellige applikationer indenfor elektronisk krigsførelse.

National Instruments Danmark
tlf.: 45 76 26 00 
www.com/microwave/

17/11 2014
  • Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    Tablet til brug i de mest krævende målemiljøer

    t-og-m ›Med sigte på systemintegratorer og leverandører af skræddersyede løsninger, tilbyder det tyske firma Aaronia nu en ny ekstrem robust tablet-platform (in english).
  • Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    Ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark

    t-og-m ›David Adgill Larsen er udnævnt til ny adm. direktør i Rohde & Schwarz Danmark A/S. Her afløser han Niels Frandsen, der har ledet firmaet i mere end 36 år.
  • EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    EKTOS TRS holder 'åbnet hus' i testlaboratoriet i Struer

    t-og-m ›Med fokus på præ-compliance EMC test afholder EKTOS på firmaets TRS-laboratorium i Struer den 3. september en ny TRS Open Lab session.
  • Ny generation af split core strømsensorer

    Ny generation af split core strømsensorer

    sensorer ›Til brug i pladsbegrænsede applikationer - som f.eks. i forbindelse med in-vehicle xEV testopgaver - lancerer Yokogawa ny generation af split core strømsensorer (in english).
  • FR3 testbed til 6G-forskning

    FR3 testbed til 6G-forskning

    t-og-m ›Korea Testing & Research Institute opbygger 6G-testbed omkring Anritsu' MT8000A, der understøtter FR3 frekvensområdet, som forventes brugt i fremtidige 6G-systemer (in english).
  • Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    Rohde & Schwarz samler aktiviteter

    t-og-m ›LANCOM Systems og Rohde & Schwarz Cybersecurity fusionerer og vil i fremtiden operere som Rohde & Schwarz Networks and Cybersecurity (in english).
  • XJTAG understøtter nu FTDI

    XJTAG understøtter nu FTDI

    aktive-komponenter-og-embedded-sw ›XJTAG, en førende leverandør af test- og programmeringsløsninger, understøtter nu FTDI's JTAG-controllerhardware i version 4.3 af XJTAG-softwaresuiten (in english).
  • Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    Anritsu strømliner udvikling og evaluering af 5 RedCap løsninger

    t-og-m ›Anritsu annoncerer, at firmaets udvidede SmartStudio NR (SSNR) og SmartStudio NR IP Performance (SSIP) softwareløsninger nu inkluderer support af 5G RedCap devicetest (in english).